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台式膜厚测试仪

台式膜厚测试仪* 技术指标型号：元素分析范围从铝（AL)到铀（U）。 * 可同时分析多24个元素或五层以上镀层。 ...

x射线膜厚测量仪

x射线膜厚测量仪技术指标： ★ 型号：BOWMAN_BA 100 ★ 元素分析范围：从AL到U ...

膜厚分析仪

膜厚分析仪产品特点： 可检测元素范围：AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.结合了大功率X射线管和高分辨率半导体探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。 ...

美国膜厚分析仪

美国膜厚分析仪产品用途：电镀层厚度及多镍镀层电位测量 应用领域：PCB、LED、航天航海、电子电器、线路板、五金锁具、塑胶电镀、标准件、钕铁硼、技术监督部门及科研机构。 ...

美国膜厚测量仪

美国膜厚测量仪优势有: 1.、高、长期稳定性、快速的分析带来生产成本优化，测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量. ...

美国膜厚测试仪

美国膜厚测试仪主要特点包括： + 成本低、快速、非破坏的分析。 + 可完成至多4层镀层（另加底材）和15个元素的镀层厚度测试，自动修正X射线重叠谱线。 ...

半导体膜厚测试仪

半导体膜厚测试仪提供： （1）分析：无需样品制备 （2）经行业的技术和性，每年都带来收益 ...

五金膜厚测量仪

五金膜厚测量仪主要特点： 薄膜FP软件：可对应于含无铅焊锡在内的合金电镀或多层电镀的测量，应用范围广泛。 可打印检测：利用Microsoft的Office操作系统可将检测工作之便简单快速... ...

镀层膜厚分析仪

镀层膜厚分析仪1.用的X射线技术,可率,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但大。 ...

镀层膜厚测量仪

镀层膜厚测量仪性能特点 1、上照式 2、测试组件可升降 3、高移动平台 4、小准直器 ...

镀层膜厚测试仪

镀层膜厚测试仪1.可测：单层,双层,多层,合金镀层, 2.测量范围:0.04-35um ...

镀金膜厚测量仪（测金机）

镀金膜厚测量仪（测金机）在技术上一直以来都于的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。 ...

X射线膜厚测试仪

X射线膜厚测试仪是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,样品的完整性,减少不要的浪费,并且的FP数字计算法,对测量数据进行的计算,测量数据的准确性. ...

x荧光膜厚测试仪

x荧光膜厚测试仪特点有： 1.可测量0.01um-300um的镀层。 2.可做各种镀层（多层、合金、多层鎳）的精密测量。 ...

x-ray膜厚分析仪

MP0涂层膜厚测量仪采用双功能内置式探头，无需更换探头，可自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式进行测量。 合人体工程学设计的双显示屏结构，可以在任何测量位置读取测量数据。 ...

x-ray膜厚测量仪

x-ray膜厚测量仪可测元素范围：铝(AL) –铀(U)。 可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm。 ...

X射线膜厚仪

X射线膜厚仪的详细信息 X射线膜厚仪是针对高要求用户设计的，能够测量精密的样品，如：微形部件或线路板上微细的表面结构，它的新颖X－射线光学镜片，创... ...

电镀膜厚分析仪

电镀膜厚测量仪的详细信息工作电源：(V)材质：产品规格：产品用途：重量：(kg)外形尺寸：**(mm) 电镀膜厚测量仪配备微焦距XRAY管，四个电动移动准值器，尺寸为圆... ...

电镀膜厚测量仪

电镀膜厚测量仪采用数学计算方法,采用新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程... ...

五金膜厚测试仪

五金膜厚测试仪采用数学计算方法和新的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,的高科技X-射线技术的支持，可对膜层厚度，进行非破... ...